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Langer-EMV LF1 set 近场探头组Near-Field Probes

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深圳市普索进出口贸易有限公司
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Langer-EMV LF1 set 近场探头组Near-Field Probes

LF 1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头,可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R 400从远距离探测模块的干扰发射情况,接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。
这些近场探头小巧轻便,并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗。

Delivery content details

LF-R 400, 磁场探头(100 KHz - 50 MHz)

LF-R 400

磁场探头(100 KHz - 50 MHz)


LF-R 400型磁场探头,因其直径(25mm)较大而具有很高的灵敏度,适合测量10cm范围以内的集成电路板和设备。


LF-B 3, 磁场探头(100KHz-50MHz)

LF-B 3

磁场探头(100KHz-50MHz)

Langer-EMV LF1 set 近场探头组Near-Field Probes

LF-B3型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置电路板上时,其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置,如开关调节器的大元件之间的位置。


LF-U 2.5, 磁场探头(100KHz-50MHz)

LF-U 2.5

磁场探头(100KHz-50MHz)


LF-U2.5型磁场探头是一个近场探头,适用于选择性检测导线、SMD元件和集成电路引脚中的高频电流。这个探头顶端有一个约0.5mm宽的磁场敏感缺口。


LF-U 5, 磁场探头(100KHz-50MHz)

LF-U 5

磁场探头(100KHz-50MHz)


LF-U5型磁场探头特别适合于检测宽的导线、电缆、端口、电子元件及其连接件处等产生的磁场。这种磁场探头的工作方式类似于电流钳。

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