日本JIMA分辨率测试卡

JIMA（日本检测仪器制造商协会）致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA RT CT-01分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）

测试卡封装在一个防护盒中

图案布局：T型

线/空间尺寸：5种规格图案

3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm

JIMA RT CT-02分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm

芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.06mm

图案布局：L型

线/空间尺寸：16种规格图案

0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm, 0.9μm, 1.0μm, 1.5μm,

2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 10.0μm, 15.0μm

JIMA RT CT-04分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm

芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm

图案布局：T型

线/空间尺寸：32种规格图案

0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,

0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm