高空低气压恒温恒湿试验箱、高低温低气压试验箱主要是模拟高海拔低温低压的环境,适用于航空航天、电工电子等科研工业部门,用于(包括元器件、材料和仪器仪表)等在高低温低气压进行贮存运输可靠性试验,并可同时测试电气性能参数。试验的严苛程度取决于温度、气压和曝露持续时间。
温度/湿度/高低温低气压海拔高度试验箱,是国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电子、电器零组件,塑料、化工业,食品业,制药工业及相关产品在高低温低气压单项或同时作用下,模拟高海拔、高空、(高原地区)气候进行贮存运用、运输可靠性试验,并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
温度/湿度/高低温低气压海拔高度试验箱、在高温-低气压环境条件下,空气电介质强度明显降低,电晕起始电压和击穿电压明显降低,增加了飞弧、表面放电或电晕放电的风险;同时降低了空气热传导能力,加剧了产品的过热;其次高温-低气压环境增加了流体和润滑油的挥发,从而增加了产品损坏和易燃气体燃爆的可能性;另外还加速了增塑剂和塑料的挥发和分解,从而加速了产品的老化。高空低气压试验,确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验。
采用进口微电脑智能控制器,全数字式PID智能调节的功能,无需用户调试的专家功能,配RS485接口可直接与电脑连接,实现了数据和曲线记录、导出、打印和网络查询功能,BTC平衡调温控制系统。外承压式箱体结构,不锈钢内胆,冷轧钢板外壳聚胺酯桔形漆喷涂。
温度/湿度/高低温低气压海拔高度试验箱系列技术参数:
型号
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YT-DQY-H225L
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YT-DQY-H408L
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YT-DQY-H1000L
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YT-DQY-H2000L
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备注
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温度范围
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20℃~-70℃~+150℃
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温度波动度
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±0.5℃(常压空载)
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温度均匀度
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≤2℃(常压空载)
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温度偏差
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±2℃(常压空载)
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升温时间(20~+150℃)
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≤60min
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≤60min
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≤50min
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≤60min
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降温时间(20~-60℃)
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≤90min
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≤80min
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≤60min
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≤80min
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气压范围
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常压~1KPa
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常压~0.5KPa
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压力精度
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±2KPa(常压~40KPa时);±5%(40KPa~4KPa时);±0.1KPa(4KPa~1KPa时)
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降压速率
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≤45min(常压→1KPa)
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结 构
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外壳
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冷轧钢板表面喷塑(象牙白)
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内胆
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不锈钢板
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制 冷
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制冷方式
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水冷
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制冷机
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进口压缩机
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观察窗(mm)
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200×300mm(宽×高)
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温度传感器
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铠装铂电阻
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压力传感器
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硅电阻压力变送器
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控制器
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西门子PLC模块(含环境试验设备嵌入式PLC控制软件V1501)+7英寸彩色液晶触摸控制屏(含环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件V1501)
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数据存储与功能接口
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USB数据接口:设备带有USB储存接口,存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数,存储格式为.csv格式,此文件可由上位机通讯软件直接生成曲线,该USB接口不支持热插拔及下载功能,如要用U盘存储试验数据,需一直让U盘处于正常联接状态; |
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电源
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AC380V 50Hz三相四线制+接地线
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标准配置
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产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、搁板2块、搁条4根。
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满足标准
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GJB 150.2、GJB 150.3、GJB 150.4、GJB 150.6、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.21
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设备满足以下标准温度/湿度/高低温低气压海拔高度试验箱:
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.6-1986 军用装备实验室环境试验方法 温度-高度试验
GJB 150.19-1986 温度-湿度-高度试验
GJB 150.24A-2009军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验
GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Z/AMD 低温/低气压/湿热连续综合试验