LED芯片推力测试 金线拉力测试 金球剪切力测试 特斯精密TEST推拉力机 LED封装测试 原件与基板粘接力测试
LED芯片推力测试技术参数
序号
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项目名称
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规格
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备注
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1
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型号
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TEST4500
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2
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操作
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自动测试
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3
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精度
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传感器精度 ±0.003% ,综合测试精度±0.1%
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①根据客户产品需求,配置不同传感器;②拉力满量程:0-10kg
推力满量程:0-50kg
③设备总体系统精准度可达0.1%以下(公开标称0.25%)
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4
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拉力测试
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标配量程:0-100g
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5
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金球推力测试
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标配量程:0-250g
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6
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晶片推力测试
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标配量程:0-20kg
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X工作台
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有效行程:80mm;分辩率:±1um
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XY标配行程:80mm;
XY最大行程:100mm
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8
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Y工作台
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有效行程:80mm;分辩率:±1um
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9
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Z工作台
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有效行程:80mm;分辩率:±1um
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平台夹具
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根据产品定制 X1,平台可共用各种夹具
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夹具可360°旋转
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传感器模组
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拉力模组X1、金球推力模组X1、晶片推力模组X1
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在软件上点击,自动更换传感器模组
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损耗品标配
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钩针X2、金球推针X2、晶片推刀X2
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损耗品尺寸根据产品需求配置
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显微镜
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标配双目连续变倍显微镜
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三目影像显微镜CCD(选配)
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摇杆
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左摇杆模组/R232、右摇杆模组/R485
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带紧急停止功能和小键盘
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压缩空气
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4.5-6Bar
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操作系统
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Win10正版
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电脑
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联想PC,带显示屏
CPU:i5、内存:4G、显卡8G、硬盘:1T
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电源
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220V±5%
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功率
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300W(max)
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尺寸
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680*580*710(含左右摇杆)
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重量
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80KG
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金线拉力测试优势
①在抽插式模组的基础上,升级为旋转盘内置三个不同量程测试传感器;在软件上点击切换,即可自动切换至测试工位,无需人为干扰;
②传感器模组为内置旋转盘,防止更换插拔式模组时人为引起的接触不良/数据异常等;
③设备可选配三目显微镜(CCD),在显示屏上观看测试全程;
④按下测试按钮,设备即可自动测试,避免手动测试引起的误差,确保数据精确性;
⑤测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据列表等形式实时显示、保存、打印。
金球剪切力测试软件功能
①自主研发软件,每项传感器采用独立的智能防呆滞/碰撞过力保护功能;
②可存储多种测试程序,点击即可调用程序直接进行下一项产品测试;
③自带MES、CPK功能(可根据客户需求定制软件功能);软件终身免费升级;
④自带重复性测试、校正功能,采用国标砝码校正方法;
⑤设备与电脑连接,显示屏可一次显示10组测试数据及力值分布曲线,
可实时导出、保存数据10万组;
特斯精密TEST推拉力机系列操作方法:
1、把检测的样品放在测试仪器的夹具中(不同的产品夹具不同),并紧扣。
2、重置后输入产品型号,操作人员等。
3、轻摇左右摇杆,把夹具中的测试样品移到推拉力表治具前端。
4、在显微镜的帮助下,把推拉力表治具上钢针对准要检测的产品。
5、点击测试按钮,机器将自动测试,不存在人为干预,使测量的产品在仪表上产生数据准确、可靠。
LED封装测试推拉力测试仪基本功能:
1.满足金球推力、金线张力、以及微焊点剪切力等基本测试功能;
2.机器系统的精度为0.05%;传感器精度小于0.1%;
3.标准移动平台XY方向80mm,可选择0-600mm移动平台;Z移动平台80mm
4.标准推力为0-20kg,可选择200kg的大推力;客户群遍布国内外LED封装行业、传统半导体制造行业、以及科技行业等。
原件与基板粘接力测试应用范围
推拉力试验机应用:
1、可进行各种推拉力测试:
金球、锡球、芯片、导线、焊接点等
2、zui大测试负载力达200kg
3、独立模组可自由添加任意测试模组:
4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能
5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持*
6、 程式化自动测试功能
拉力测试
·金/铝线拉力测试
·非破坏性拉力测试(无损拉克)
·铝带拉力测试
·非垂直(任何角度)拉力测试
·夹金/铝线拉力测试
·夹元件拉力测试
·薄膜/镀膜/芯片/组件 垂直拉力测试
·引脚疲劳拉力测试
下压测试(Z轴垂直推力)
·下压测试(Z轴垂直推力)
·非破坏性测试
·弯曲及压断测试
·引脚疲劳下压测试
推力测试
·推金/铝线测试
·非破坏性推力测试(无损拉克)
·锡/金球推力测试
·锡球整列推力测试
·锡球矩阵推力测试
·芯片推力测试
·铝带推力测试
剥离测试
·铝带剥离测试
·非破坏性拉力测试(无损拉克)