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LED芯片推力测试 金线拉力测试 金球剪切力测试 特斯精密TEST推拉力机 LED封装测试 原件与基板粘接力测试

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广东特斯精密科技有限公司
产品详情

LED芯片推力测试 金线拉力测试 金球剪切力测试 特斯精密TEST推拉力机 LED封装测试 原件与基板粘接力测试

LED芯片推力测试技术参数

序号

项目名称

规格

备注

1

型号

TEST4500

2

操作

自动测试

3

精度

传感器精度 ±0.003% ,综合测试精度±0.1%

①根据客户产品需求,配置不同传感器;②拉力满量程:0-10kg

推力满量程:0-50kg

③设备总体系统精准度可达0.1%以下(公开标称0.25%)

4

拉力测试

标配量程:0-100g

5

金球推力测试

标配量程:0-250g

6

晶片推力测试

标配量程:0-20kg

7

X工作台

有效行程:80mm;分辩率:±1um

XY标配行程:80mm

XY最大行程:100mm

8

Y工作台

有效行程:80mm;分辩率:±1um

9

Z工作台

有效行程:80mm;分辩率:±1um

10

平台夹具

根据产品定制 X1,平台可共用各种夹具

夹具可360°旋转

11

传感器模组

拉力模组X1、金球推力模组X1、晶片推力模组X1

在软件上点击,自动更换传感器模组

12

损耗品标配

钩针X2、金球推针X2、晶片推刀X2

损耗品尺寸根据产品需求配置

13

显微镜

标配双目连续变倍显微镜

三目影像显微镜CCD(选配)

14

摇杆

左摇杆模组/R232、右摇杆模组/R485

带紧急停止功能和小键盘

15

压缩空气

4.5-6Bar

16

操作系统

Win10正版

17

电脑

联想PC,带显示屏

CPUi5、内存:4G、显卡8G、硬盘:1T

18

电源

220V±5%

19

功率

300W(max)

20

尺寸

680*580*710(含左右摇杆)

21

重量

80KG

金线拉力测试优势

①在抽插式模组的基础上,升级为旋转盘内置三个不同量程测试传感器;在软件上点击切换,即可自动切换至测试工位,无需人为干扰;

②传感器模组为内置旋转盘,防止更换插拔式模组时人为引起的接触不良/数据异常等;

③设备可选配三目显微镜(CCD),在显示屏上观看测试全程;

④按下测试按钮,设备即可自动测试,避免手动测试引起的误差,确保数据精确性;

测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据列表等形式实时显示、保存、打印

金球剪切力测试软件功能

自主研发软件,每项传感器采用独立的智能防呆滞/碰撞过力保护功能;

②可存储多种测试程序,点击即可调用程序直接进行下一项产品测试;

③自带MESCPK功能(可根据客户需求定制软件功能);软件终身免费升级;

④自带重复性测试、校正功能,采用国标砝码校正方法;

⑤设备与电脑连接,显示屏可一次显示10组测试数据及力值分布曲线,

可实时导出、保存数据10万组;

特斯精密TEST推拉力机系列操作方法:

1、把检测的样品放在测试仪器的夹具中(不同的产品夹具不同),并紧扣。

2、重置后输入产品型号,操作人员等。

3、轻摇左右摇杆,把夹具中的测试样品移到推拉力表治具前端。

4、在显微镜的帮助下,把推拉力表治具上钢针对准要检测的产品。

5、点击测试按钮,机器将自动测试,不存在人为干预,使测量的产品在仪表上产生数据准确、可靠。

LED封装测试推拉力测试仪基本功能:

1.满足金球推力、金线张力、以及微焊点剪切力等基本测试功能;

2.机器系统的精度为0.05%;传感器精度小于0.1%;

3.标准移动平台XY方向80mm,可选择0-600mm移动平台;Z移动平台80mm

4.标准推力为0-20kg,可选择200kg的大推力;客户群遍布国内外LED封装行业、传统半导体制造行业、以及科技行业等。

原件与基板粘接力测试应用范围

推拉力试验机应用:

1、可进行各种推拉力测试:

金球、锡球、芯片、导线、焊接点等

2、zui大测试负载力达200kg

3、独立模组可自由添加任意测试模组:

4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能

5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持*

6、 程式化自动测试功能

拉力测试

·金/铝线拉力测试

·非破坏性拉力测试(无损拉克)

·铝带拉力测试

·非垂直(任何角度)拉力测试

·夹金/铝线拉力测试

·夹元件拉力测试

·薄膜/镀膜/芯片/组件 垂直拉力测试

·引脚疲劳拉力测试


下压测试(Z轴垂直推力)

·下压测试(Z轴垂直推力)

·非破坏性测试

·弯曲及压断测试

·引脚疲劳下压测试

推力测试

·推金/铝线测试

·非破坏性推力测试(无损拉克)

·锡/金球推力测试

·锡球整列推力测试

·锡球矩阵推力测试

·芯片推力测试

·铝带推力测试


剥离测试

·铝带剥离测试

·非破坏性拉力测试(无损拉克)

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