爱佩科技 50L 芯片冷热冲击测试箱 深圳高低温冲击试验箱是一款用来做温度快速冲击实验的设备，追快高低温从-40度冲至85度可在2秒钟内达到高低温转换，5分钟内稳定。也是一款用于做温度破坏型的实验专用设备。此设备满足的实验方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击实验。实验用低温冲击箱|实验用高低温冲击试验箱根据实验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于实验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和实验室，产品在测试时是放置在实验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。用户可根据自己有实际需求选择相关规格型号。

爱佩科技 50L 芯片冷热冲击测试箱 深圳高低温冲击试验箱技术指标六、容积、尺寸和重量

6.1. 内容积 50L

6.2. 内箱尺寸 400 *350 *350mm (W* H *D)

6.3.外型尺寸(约) 1300*1800*2020mm (W* H *D)

6.4. 重 量 约700㎏

七、性能指标

7.1. 测试环境条件 机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

7.2. 满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.测试室温度范围： -55℃～+150 ℃ (风冷式)

7.4. 高温室

7.4.1. 预热温度范围 RT～+165℃

7.4.2. 升温时间

+50℃→+165℃ ≤30min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

7.5. 低温室

7.5.1. 预冷温度范围 RT～-65℃

7.5.2. 降温时间 +20℃ → -65℃≤约90min

注：降温时间为低温室单独运转时的性能

7.6. 试验室（试样区）

7.6.1. 试验方式 采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

7.6.2. 温度波动度 ±0.5℃

7.6.3. 温度偏差 ±2.0℃

7.6.5. 温度恢复时间 ≤5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内