一、产品名称爱佩科技 芯片冷热冲击测试箱 桂林冷热冲击试验设备

二、产品型号 3AP-CJ-150A

三、控制仪表 爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器(具有温度报警显示、实时温度曲线显示)

四、试样限制 本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或

储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存。

五、三箱特点 1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。

六、容积、尺寸和重量

6.1. 内容积 150L

6.2. 内箱尺寸 600×500×500 mm (W* H *D)

6.3. 外型尺寸(约) 1500 *1900 *1550mm (W* H *D)

6.4. 重 量 约1300㎏

七爱佩科技 芯片冷热冲击测试箱 桂林冷热冲击试验设备性能指标

7.1. 测试环境条件 机器周围环境温度维持在 25~ 30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

7.2. 满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.测试室温度范围： -65℃～150 ℃ (风冷式)

7.4. 高温室

7.4.1. 预热温度范围 RT～ 180℃

7.4.2. 升温时间

60℃→ 180℃ ≤40min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

7.5. 低温室

7.5.1. 预冷温度范围 RT～-75℃

7.5.2. 降温时间 RT → -75℃≤90min

注：降温时间为低温室单独运转时的性能

7.6. 试验室（试样区）

7.6.1. 试验方式 采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

7.6.2. 温度波动度 ±0.5℃

7.6.3. 温度偏差 ±2.0℃

7.6.5. 温度恢复时间 ≤5min；转换温度只需要≤10s(满足国家标准）