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微源检测X射线衍射-PXRD-晶型检测晶粒尺寸结晶度分析方法开发验证

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杭州微源检测技术有限公司
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?X射线衍射仪XRD

项目简介:

X射线衍射仪 (X-ray diffraction,XRD)是通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

常规广角: 3-120°,测试速率:10°/min、5°/min、2°/min、2°/min。

仪器介绍:

1)仪器型号:Rigaku D/max-2200


X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。日本理学Rigaku D/max-2200型X射线衍射仪高速运转及高精度的角度重现性提供快速可靠性高的数据,垂直型测角仪可用于分析各种状态的样品,扩大了使用范围。

zui大管电压:60kv

扫描角度范围:3°-120°

扫描速度:0.1°-50°/min

回转速度:1000°/min

测试精度:0.001°/ 步

样品要求:

粉末样品:提供100mg以上,颗粒均匀,粒度在45um左右或过200目筛子

块体样品:尺寸要求1*1*1cm左右,表面平整

数据展示:

常见问题:

1)为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些?

因为粉末样品要铺满整个样品台,不然X射线可能会打在样品台上,影响数据质量。

2)为什么XRD测试要求薄膜(块体)样品尺寸要合适?

因为放置薄膜(块体)样品的样品台尺寸是固定的,用橡皮泥来固定样品,样品太大放不进去,样品太小不好固定。

3)为什么XRD数据的峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?

样品的衍射峰强度最主要跟样品本身的结晶度有关,其次跟样品量以及仪器的功率有关系。

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