仪器原理：

   SDB410 全谱直读光谱仪由激发模块、光路系统、CCD检测系统、分析软件四部分组成。仪器工作时，在氩气环境的保护下，激发光源产生的高压放电将能量传递给金属材料，使金属材料由固态变为气态。金属蒸气的原子外层电子由基态跃迁至激发态，处于激发态的原子是不稳定的，当外层电子由激发态回到基态时，能量以光的形式放出。不同元素发射出不同波长的光，通过光路系统及 CCD检测器采集全谱曲线，由分析软件解谱，根据光的波长确认某一元素的存在，根据该波长的强度确定这一元素的含量多少。

应用领域：

PS-SDB410 全谱直读光谱仪主要用于测量金属材料中合金元素成份及杂质元素含量，广泛应用于冶金、铸造、机械加工等行业的炉前检测、来料检验、质量控制及出厂检验等，

可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金属及其合金的样品分析。

PS-SDB410全谱直读光谱仪测量精度远高于国家标准，从推出市场至今，积累了丰富的应用经验，得到了许多客户的认可。

技术参数：

光学结构：PS-SDB410 采用Paschen-Runge结构，罗兰圆装置，以降低仪器随环境温度、真空度改变而引发的应力释放的影响，提高仪器精准度及稳定性。

光学焦距：光栅半径400mm，较长的焦距为仪器提供了的分辨率。

谱线范围：可探测波长范围（120～800）nm，可分析包括 N、Li、 Na、K 等元素及常规元素，满足各个基体材质对测试元素的需求。

入射狭缝：狭缝宽度12μm，精细的入射狭缝有效地过滤掉不必要的杂光，避免探测器接收光强过于饱和，降低元素间光强干扰值。

光源透镜：采用石英玻璃材质MgF2渡层，保证C、S、P、N等紫外波长透过光强，使紫外短波测量结果更为可靠。

探测器：采用CCD探测器，最多安装16块CCD，采用上下错位布局，不同波长之间没有间隙，使光谱波长成为一整体，实现全谱覆盖，满足客户对多元素测试需求。

凹面光栅：2400gr/mm，色散率倒数：0.47nm/mm（1级），凹面光栅可以减少吸收现象，只存在光栅面一次反射的光损失，且无色差，提升真空紫外光谱效果。

分析时间：依样品种类而不同，一般一次分析用时少于40秒。

激发光源：数字化激发光源，多种激发条件可调，满足不同材质的分析需求。

测光方式：V-F法

控制系统：采用FPGA技术控制仪器工作状态。

尺寸大小：890*560*515 mm

激发电极：采用高纯度钨电极，高纯度钨电极有高强度、耐腐蚀、耐高温氧化优点，降低仪器使用过程中仪器参数对测试数据的影响。

仪器重量：约60kg；

消耗功率：1.0kW；

真空要求：5～12 Pa；

氩气模块：分析流量4 L/min；待机流量0.1 L/min；优秀的节氩技术：保证客户日常使用氩气需求量的降低，减少企业使用成本。智能、先进的气路监控：激发前，监控系统确保样品夹、样品和火花台形成回路，确保火花室密封、不漏气。确保样品表面平整度达到要求。激发后，脉冲式氩气吹扫，提升粉尘去除效果，确保仪器的短期和长期稳定性。

操作系统：采用品牌计算机质量保证，安装奥文公司自主研发的操作软件系统OwindLab，特有的计算算法结合优异的硬件系统大幅度提升仪器的性能。

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企业资质：

售后服务：

质保期壹年，24小时售后服务热线，快速响应客户需求，全国各地均有驻点工程师，24-72小时内上门技术服务。