非标高低温冲击箱常用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、金属、塑胶等行业产品及零配件，航天、国防工业、兵工业、半导体陶瓷、电子芯片IC及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复冲击力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的实际质量,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它作为理想的测试设备。

技术指标

型号	AP-CJ-50	AP-CJ-80	AP-CJ-150
试验箱内尺寸mm	360X350X400	500X400X400	600X500X500
试验箱外尺寸mm	1550X1750X1450	1750X1800X1500	180X1850X1550
功能	高温转至低温之间可以在瞬间内冲击完成试验
符合标准	GB/T2423.1.2 GB10592 GJB150等众多国标及军标
温度范围	（－40℃、－55℃、－65℃）～150℃
温度波动	高温室及低温室均≤±2℃
样品区温度波动	≤±0.5℃（恒温时）
样品区承重	约25KG（更大承重请下单时注明）
控制器	采用韩国或者日本进口的LED数显P、I、D+S、S、R微电脑集成控制器
制冷系统	复叠式制冷系统，采用法国泰康压缩机或德国比泽尔压缩机作为核心制冷配置
循环系统	耐高低温空调型电机、多叶式离心风轮
温度转换时间	≤10s
温度回复时间	≤5min
温度冲击方法	三箱式或者两箱式可选择
以上高低温冲击试验箱报价请致电业务部0769-81188261、81084857、81015055、810150556接通人工服务快速索取报价方案。非标方案也可以与客服联系，谢谢。

非标高低温冲击箱满足的试验方法有：

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；

GB/T2423.22-1989温度变化试验；

GB/T2423.1-1989低温试验方法；

GB/T2423.2-1989高温试验方法；

GJB360.7-87温度冲击试验；

GJB150.5-86温度冲击试验；

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；

GJB367.2-87 405温度冲击试验；

GB/T 2423.22-2002温度变化；

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。