探测器：

高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器，Peltier效应半导体制冷

硬件系统：

日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器 4096像元微通道结构

充电电池：

电池满充电可连续工作8-12小时

显示器：

带背光的视频图形阵列（VGA）触摸屏LCD,显示分析时间，合号，成分百分比含量和分析误差值（2倍sigma误差）

分析范围：

从22号元素钛（Ti）到83号元素铋（Bi）中，23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析，需根据具体情况协商确定

工作模式：

（1）合号鉴别与成分分析模式；（2）标识匹配鉴别模式；（3）超级成分分析模式

数据存储：

6000个以上的测量数据及其X射线谱图

仪器重量：

1.4公斤

仪器尺寸：

248×273×95mm（L×H×W）

激励源：

低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管

工作条件：

环境温度-20℃-50℃

安全特性：

操作密码保护，防止非授权人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁

标准附件：

带锁的防水手提箱，携带用仪器保护套，备用充电电池及护套，110v/220v通用充电器，PC机连接电缆，NDT软件，仪器手腕安全系索，仪器检查、验证用合金标样，使用手册

分析范围

激励源：

Ｘ射线管

分析元素：

Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Ag Pd Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb

应用范围：

各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等；可通过对其它合金元素的测定，实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。

XLt的特点

◆真正实现在现场对被检材料进行完全无损的快速检测

◆仪器直观显示合号和元素成分百分比含量

◆用户可以自行编辑合号库和添加合号

◆仪器无需外接PDA，一体化程度更高，抗电脑病毒，防尘防水能力强，操作便捷

◆可选蓝牙附件实现与计算机的无线通讯

◆随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制

◆自动存储6000个以上的分析数据和谱图

◆不含放射性同位素激励源

◆外型优雅、握在手中很舒适

◆高强度、高密封性设计，防溅水，抗冲击性好

◆采用尼通砖利技术的高速电子部件，延长了电池工作时间，通常充满电后，可轻松完成2000点（10秒/点）以上的测试

◆一体化触摸屏，用户界面**、直观，操作方便

◆具有热交换功能的充电电池，允许长时间连续工作

◆一体化条形码扫描器，数据输入快速，简便

◆更快的分析速度，接近实验室水平的分析精度

◆较少的校准需求，多种可选的分析模式

◆具有机内自动诊断和故障报告功能

◆可通过Internet实现软件升级