商品 详情
镀层测厚仪XTD-200-微小样品膜厚分析

¥ 188000

  • ≥ 1 起订量
  • 10000个 总供应
  • 广东 深圳 所在地
深圳市美程精密电子有限公司
产品详情


仪器优点:

1.分析精度极高

2.分析范围广泛

3.微区精准定位

4.操作简单快捷

5.结果可靠精准

6.领先行业标准

性能优势:

1.先进的EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。

3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。

4.变焦装置算法:可对最大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。

5.小面积测量:最小测量面积0.002mm2

6.大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm.

结构设计:

一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。

独创EFP算法:

采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。

只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

首页 机械设备 / 电子产品制造设备 / 电子制造设备配附件
相关产品
店内推荐
首页
店铺
拨打电话 立即报价
发送询价单
采购商品:
采购数量:
联系信息:
公司名称:
采购说明:
 
您的询盘第一时间将不发送给其他供应商,但该供应商24 小时未响应情况下,仍将为您分配更合适供应商
图形验证:
图形验证码 换一换
验证码校验