天瑞仪器 X荧光镀层测厚光谱仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加精准 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A 元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 一次可同时分析多24个元素，五层镀层。 分析含量一般为2ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 仪器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm 重量：90 kg

标准配置

开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

江苏天瑞仪器股份有限公司的X荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅

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