型号：JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22

JIS- STB-A1(与IW试块相同)

JIS-STB-A2 (用单探头或双探头法进行斜角探伤时,用于探伤灵敏度的调整或表示。也可用

于探伤仪的综合分辨力的测定和表示)。

JIS-STB-A3(作为A1和A2试块现场用的辅助标准试块,可用于入射点的确定、时间轴的调整、时间轴原点的修正、折射角和探伤灵敏度的确定)

JIS- STB-G(用于各种调整、探伤距离的检定等)。

V2~V8都加工有φ2平底孔,和V15-2-样用于 2~15mm探伤距离下的灵敏度特性试验,反射

脉冲高度在规定值t 1db以内。V15-1 ~V15-5.6钻有ρ1.0~φ5.6mm平底孔,相邻孔底的面

积比依次为2倍。即用于探伤灵敏度的调整。