大中华区田野仪器TY-ABR-1000光弹系数测试仪代理

１．概述

1.1简介

TY-ABR-1000 装置，在本公司制造的自动双折射测量装置（TY-ABR-1000 系列）的基础上增设了应力载荷装置，由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是，采用配置的拉伸/压缩试验机，对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。

双折射测量的方式，由于采用光学外差法的普通光路干涉仪，及通过Fourier分析法进行数据处理的方式， 其特点是速度快，精度高，并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633nm的频率稳定的横向Zeeman激光器（输出2mW）作为光源，尽量减少设备构成中的光学部件，实现了长期使用过程中，基本上无需维护的构造。

１．２ 特点

◎测量时间 3秒以下/测量点

◎解析度 双折射相位差：0.01nm

主轴方位角：0.1deg.

◎精度 应力松弛可控制到最小化

◎负载量 量程0～50N 最小读数0.01N

（收费选项：添加可切换式量程）

◎测量位置确认 可通过目测来确认测量位置

◎操作简单 根据菜单指示用鼠标进行简单操作

◎最适合用于研究及质量管理

１．３ 双折射测量原理

本设备使用由两个线性偏振光分量（f1，f2）组成的稳频激光器（STZL），两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路，并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号（fb= f1-f2）为几百kHz，可以通过示波器或电相位计读取。

以此方式，样品的光学相位差（δ）被转换为拍频信号的相位差（δ），并且可以容易地被测量。如图所示，通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向（φ）。

○相位差：Rｅ

Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d

?λ ：光源波长

?δ ：实测相位差

?ｎＳ,ｎＦ：主折射率

?ｄ：样品厚度

○主轴方位角：φ

１．４ 主要规格

１．４．１ 光弹性常数的测量性能及规格性能

测 量 范 围 ：	０．１～２００ (×10-12/Pa) 前 后
重复精 度 *：	２％以下 以 TAC（三乙酰纤维素）薄膜作为被测样品测量时
测 量 方 法 ：	（１） 压缩模式； 对类似于普通玻璃的硬质样品施加压缩载荷进行测量的模式（标准样品形状；φ20，t15mm） （２） 拉伸模式； 对类似于薄膜的软质样品施加拉伸载荷进行测量的模式 （有关例如哑铃形或条形薄膜等其他形状的样品，将另行协商） （利用初始双折射量校准功能，可以使该测量不受样品初始条件的影响）
载 荷 范 围 ：	０～５０N （最小每 0.1N 程序）

规格

转换模式：	压缩模式及拉伸模式
驱动系统 ：	采用步进马达同时驱动左右螺钉
模式切换：	可通过软件切换（但是，样品卡盘需要手动切换）
拉伸/压缩速度：	０．０１～１００mm/min
拉伸/压缩距离：	１００mmMAX
称重传感器：	额定 50N（可更换为 200N,1000N）

１．４．２ 双折射测量性能及规格性能

测 量 项 目 ：	○双折射相位差：Re	（光学相位差：δ）	○主轴方位角：φ
测 量 范 围 ：	0～260nm	（0～150deg.）	0±90deg.
解 析 度 ：	0.01nm	（0.006deg.）	0.1deg.
重 复 精 度 ：	±0.5nm	（±0.3deg.）	±0.5deg.
	（水晶材质的相位差板（1/4λ）在正常的检验室环境下测量的实际值 为3σ）
测 量 时 间 ：	3秒以下/测量点（同时测量相位差及方位角）

规格

测 量 原 理 ：	光学外差测量法（双折射量 Re，主轴方位角 φ）
光 源 ：	He-Ne 激光（λ=633nm;输出 2mW) [稳频横向 Zeeman 激光器]
光 束 直 径 ：	φ0.75mm（１／ｅ２）

１．４．3 装置外形

光弹性测量装置 型号TY-ABR-100 0

１．５ 测量例

１．５．１ 光弹性常数测量

光弹性常数TAC（三乙酰纤维素）薄膜

歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纤维素）薄膜