1.强阻尼探头加上延迟块可以提供极佳的近场分辨率

2.较高的探头频率提高了分辨率

3.直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力

4.具有外形吻合功能，适用于曲面工作

应用

1.精确测厚

2.垂直声束缺陷探测

3.对接触区域有限的工件进行检测

M2PROBE超声延迟块探头20兆赫3mm参数：

探头类型	频率	晶片尺寸		型号		连接器
		inch	mm	G  系列	C 系列
延迟块探头	2.25	0.25	6	DE2.25C6	2.25N6	Microdot
	5	0.5	13	5C13	5N13
	5	0.25	6	5C6	5N6
	10	0.25	6	10C6	10N6
	10	0.125	3	10C3	10N3
	15	0.25	6	15C6	15N6
	20	0.125	3	20C3	20N3

G系列  （普通型）

应用领域：

推荐用于大多数检测应用。

性能特点：

合适的灵敏度和纵向分辨率

回声持续时间较长，周期通常约为4

 C系列（复合型）应用领域需要高渗透率的考试场合以及较高的信噪比，例如粗粒度。

性能特点：使用压电复合材料灵敏度通常高于G和N系列回声持续时间较短，通常约为2个周期更高的带宽，通常为70-100%探头可以更好地匹配低声阻抗水和复合材料等介质

 

N系列（窄肪冲）应用领域：为了需要精确的厚度测量和近表面缺陷检测。

性能特点：出色的纵向分辨率最小盲区高度灵敏度通常低于G和C系列回声持续时间较短，通常为1.5至2个周期更高的带宽，通常为80-110%