Mikron  M315X-HT黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像仪，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试在需要更高的温度的严格参数。

M315X-HT黑体源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。

发射器源温度控制由精密数字PID控制器执行，该控制器安装在7英寸（180毫米）高19英寸机架安装式机箱中。 

• 8至14 μm时的高有效发射率1.0

• 孔径范围（4 x 4英寸至12 x 12英寸）

• 高精度和高分辨率（0.1°C）

• 在静止空气环境中具有出色的稳定性± 0.2°C

技术参数

温度范围：

 环境温度30至600°C（86至1112°F）

 温度不确定度：

 T <100°C时为±1°C，T = 600

°C时为±2°C（通过 辐射测量进行的精度校准），已经包括了发射率和传输标准的不确定性

 温度分辨率：

 0.1°摄氏度

 稳定性：

 在静止空气环境中

为±0.2°C，提供稳定的交流电源电压，并且最小的空气流经出口或发射板

加热发射极形状：平板

出口直径：

M315X4HT：101 x 101毫米（4 x 4英寸）

M315X6HT：152 x 152毫米（6 x 6英寸）

M315X8HT：203 x 203毫米（8 x 8英寸）

M315X12HT：305 x 305毫米（12 x 12英寸）

 发射率：在8至14μm时?1.00的有效发射率

标准校准方法：辐射度

 温度感应器：精密铂RTD

 热身时间：<30分钟的环境温度至500°C

 摆率达0.1°C的稳定性： 在Δ100°C设定点，之间大约30分钟