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SGC-01接触角测量仪之什么是接触角接触角的定义

¥ 19000

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  • 99999台 总供应
  • 江苏 苏州 所在地
苏州尚高检测设备有限公司
产品详情




 首先我们先了解一下:

接触角的定义是什么?什么是接触角?


 当液滴自由地处于不受力场影响的空间时,由于界面张力的存在而呈圆球状。但是当液滴与固体平面接触时,其最终形状取决于液滴内部的内聚力和液滴与固体间的粘附力的相对大小。当一液滴置于固体平面上时,液滴能自动地在固体表面铺展开来,或与固体表面成一定的角度而存在,我们称之为接触角(Contact Angle),即在一固体水平平面上滴一液滴,固体表面上的固—液—气三相交界点处,其气—液界面和固—液界面两切线把液相夹在其中所成的角,也称浸润角或润湿角(Wetting Angle)。用符号θ表示,单位度(°)。 

 一液滴在水平固体表面上,当固—液—气三相达到热力学平衡时,形成的接触角与各界面张力之间符合杨氏方程Young's Equation)式:
                    γLG·cosθ=γSGSL          (1)
(1)式中γLGγSGγSL分别为液—气、固—气和固—液的界面张力,θ为液体与固体间的界面和液体表面的切线所夹(包含液体)的角度,即接触角。θ范围在0~180°之间,是反应液体与固体润湿性关系的重要尺度:
A. 当θ=0°,时为铺展(完全润湿)
B. 当θ<90°时为润湿(亲水)
C. 当θ=90°时为润湿与否的分界标准
D. 当θ>90°时为不润湿(疏水)

E. 当θ=180°时为完全不润湿(是不可能的理想状态,因液体与固体间的相互吸引力总会存在)

尚高公司在表面处理测试环节,退出的接触角测量仪

通过对产品的测试测量分析,保障后续工艺的可靠性

SGC-01接触角测量仪(SUNGOLL品牌)



静态接触角分析仪,基于光学影像分析法的原理测试液体在固体表面的接触角,同时亦可估算出固体的表面能及其组分值。广泛应用于喷涂、镀膜、玻璃、铝箔、电子部件和清洗等行业的表面处理效果分析和洁净度检测。


SGC-01接触角测量仪 规格参数:

接触角
测量

测量方法

停滴法

计算方法

量高法、量角法、圆环法、椭圆法、拟合法、自动法

测量范围

0°~180°

量精度

±0.1°(可校准)

分辨率

0.001°

表面能
估算

估算模型

Fowkes、扩展FowkesOwens-Wendtvan OSSWu调和平均法、状态方程法

估算结果

固体表面自由能及其分量

光学成
像系统

工业相机

300万像素,帧率36fps

工业镜头

0.7~4.5×连续变倍

调焦方式

手动调焦,软件检测清晰度

背光源

LED冷光源,亮度连续可调

加液系统

加液方式

手动式

加液精度

±1μl

样品台

台面尺寸

X100×Y110mm

移动行程

X86×Y100×Z50mm

移动方式

手动式

仪器尺寸

约W550×D180×H520mm

仪器重量

约15kg

使用电源

1∮ AC220V 50HZ

SGC-01接触角测量仪 仪器构成:


名称

参数描述

主机架

AL6061铝合金数控加工而成,表面烤漆处理

支撑脚

全碳钢材质,表面镀锌处理,可万向和垂直升降调节

工业相机

USB2.0接口,1/2″CCD传感器,分辨率2048×1536,帧率36帧/秒

工业镜头

对焦距离95mm;0.7×时视场13.71~18.28mm;4.5×时视场2.13~2.84mm

背光源

LED冷光源,亚克力遮光技术,亮度采用可调光适配器无级调节

调焦模块

螺纹副控制调焦,调焦范围±12.5mm;螺杆控制水平和俯仰调整,调整范围±2°

加液模块

微分头控制进样器加液,齿轮齿条控制进样器升降

样品台

三维闭合式结构,齿轮齿条控制前后、左右和上下移动

测量软件

CAM 8.1TM 表面分析测量系统



SGC-01接触角测量仪 仪器构成:

名称

参数描述

主机架

AL6061铝合金数控加工而成,表面烤漆处理

支撑脚

全碳钢材质,表面镀锌处理,可万向和垂直升降调节

工业相机

USB2.0接口,1/2″CCD传感器,分辨率2048×1536,帧率36帧/秒

工业镜头

对焦距离95mm;0.7×时视场13.71~18.28mm;4.5×时视场2.13~2.84mm

背光源

LED冷光源,亚克力遮光技术,亮度采用可调光适配器无级调节

调焦模块

螺纹副控制调焦,调焦范围±12.5mm;螺杆控制水平和俯仰调整,调整范围±2°

加液模块

微分头控制进样器加液,齿轮齿条控制进样器升降

样品台

三维闭合式结构,齿轮齿条控制前后、左右和上下移动

测量软件

CAM 8.1TM 表面分析测量系统





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