XAU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）

2.成分检出限：1ppm

3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）

4.涂镀层检出限：0.005μm

5.测量直径□0.1*0.3mm（测量面积0.03mm2）

标配：测量直径0.3mm（测量面积0.07mm2）

6.对焦距离：0-30mm

7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9.仪器重量：45KG