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实谱科技 x-ray测厚仪 x荧光镀层测厚仪

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苏州实谱仪器有限公司
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实谱科技 x-ray测厚仪 x荧光镀层测厚仪

分析方法:能量色散X射线荧光分析方法

测量镀层范围:0-50um

检测镀层种类:铜、镍、锌、铬、金、银等金属镀层

分析精度:单层电镀相对误差不超过10%

检测时间:15-20

检测窗口:12mm

GPSWIFI:内置系统

检测对象:金属电镀

镀层行业问题解答

问:X荧光镀层测厚仪能测塑料吗?

答:能,但要看测塑料类的什么?塑料上的电镀层是可以的,已经在PCB行业和汽车、装饰品上的塑料电镀都有很多运用。

问:镀层测试的元素范围?

答:只要能形成固体元素都可以,因为我们除了能用发射法计算,还可以用吸收法,前提要看元素的组合,找到相对应的方法和标样,我们目前能测的会遇到的镀种已经有四百种左右,当然有的镀种组合是X荧光镀层测厚无法计算的。

问:X荧光镀层测厚仪工作原理是什么?

答:原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

问:什么是我们作为镀层测试的基础?

答:特征X射线,其由被测量物质的基本组成元素决定,元素不同,其特征X射线能量不同

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