苏州实谱仪器有限公司
优势和特点
超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
有助于识别镀层成分的创新型功能
机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室
X荧光光谱测厚仪元素分析范围：氯（CI）-铀（U）厚度分析范围：各种元素及有机物一次性同时分析：23层镀层，24种元素厚度最di检出限：0.005um最xiao测量面积:0.002m㎡膜厚仪的特点1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用，能够准确对焦，提高量测效率。2、具有焦点距离切换作用，x荧光镀层膜厚仪，适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测功能强大、易于使用的元素分析软件 无标和半无标分析 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
多层厚度及成分
不限元素、不限数量的标样
利用自动化操作实现多个激发条件
