实谱2800B同时满足rohs和镀层厚度以及铜合金 不锈钢成分分析的x荧光光谱分析仪器。性能卓越、微量X荧光检出专家

采用独特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发靶材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有超低的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。
自动化程度高、高清摄像
仪器多组滤片和光路自动切换，自动升降测试盖，高清摄像头辅助。
专业软件
专业软件，特别针对镀层检测的应用软件，具有灵敏度高、测试时间短、操作简易、对操作人员限制小的特点。

分析元素范围：硫（S）- 铀（U）

同时检测元素：最多24种，多达5层镀层
检出限：可达2ppm，最薄可测0.005μm
分析含量：2ppm-99.9%
镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同）
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，最小孔径达0.1mm
最小光斑可达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头