镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

优势和特点

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

• *用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
  *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享
  *有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

  

  先进的技术
  *独特的 Peltier 电制冷进口检测器
  *数字脉冲处理 (DPP) 技术

  *基本参数 (FP) 无标样分析方法

  *高性能、多元素分析

  功能强大、易于使用的元素分析软件
  无标和半无标分析
  基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
  多层厚度及成分
  不限元素、不限数量的标样
  利用自动化操作实现多个激发条件

  可应用于
  *合金分析

  *镀层厚度分析
  *电镀液金属离子分析

  *磁性介质和半导体元素分析
  *土壤污染元素分析
  *过滤器上的薄膜元素分析
  *塑料中的有毒元素分析