XRF检测仪产品详细介绍：

利用X射线荧光快速分析原理，对固体废弃物中的硫，氯，汞，镉，铊，砷，镍，铅，铬，锡，锑，铜，锰，锌，钒，钴，鉬等重金属元素进行定量分析，测试时间两到三分钟。高功率X光管，元素激发效果好，测试精度高。固体废弃物的处理通常是指物理、化学、生物、物化及生化方法把固体废物转化为适于运输、贮存、利用或处置的过程，固体废弃物处理的目标是无害化、减量化、资源化。必测项目包括:As、Be、Bi、Cd、Co、Cr、Cr(VI)、Cu、Hg、Mn、Ni、Pb、Sb、Se、Sn、Tl、V、Zn、氯化物、氰化物、氟化物、硝酸盐、硫化物、硫酸盐、油分、pH;卤代挥发性有机物、非卤代挥发性有机物、芳香族挥发性有机物、半挥发性有机物、1,2-二溴乙烷/1,2-二溴-3-氯丙烷、丙烯醛/丙烯腈、酚类、酞酸酯类、亚硝胺类、有机氯农药及PCBs、硝基芳烃类和环酮类、多环芳烃类、卤代醚、有机磷农药类、有机磷化合物、氯代除草剂、二恶英类。

无机污染成分
无机污染成分的分析方法主要采用分光光度分析技术(SP)、离子色谱法(IC)、火焰原子吸收光谱技术(FLAAS)、石墨炉原子吸收光谱技术(GFAAS)、氢化物发生原子吸收光谱技术(HGAAS)、氢化物发生原子荧光光谱技术(HGAFS)、ICP发射光谱技术(ICP)和ICP-MS技术。分析溶液的制备方法主要采用高压釜酸分解技术和微波辅助酸溶解技术，试液主要采用单酸或混酸消解的前处理方法并结合其他分离富集技术来获得。

有机污染物成分
有机污染成分的分析方法主要采用气相色谱技术(GC)、气相色谱-质谱联用技术(GC-MS)和液相色谱技术(HPLC)。有机污染成分的提取方法主要采用快速溶剂萃取技术或微波辅助溶剂萃取技术;有机污染物的分离富集方法主要采用精制硅藻土柱色谱净化法、Florisil柱色谱净化法和薄层色谱分离法;待测试液的进样主要采用吹扫-捕集技术(PT)、顶空技术(HS)和热脱附等技术。

产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重保护模式
可靠的整体钢架结构