SUMIX进口MAX-QS +干涉仪用于单光纤连接器和带有异常检测的MT-RJ，进行单纤检查，自动对焦，通过/失败判定，划痕检测，快速测量，行业标准

2020年4月24日 刘礼鹏 139-1685-4983

MAX-QS +干涉仪

用于单光纤连接器和带有异常检测的MT-RJ

MAX-QS +是一种白光相移干涉仪，用于检查单光纤ST，FC，SC，LC，MU，E2000™（PC和APC），小型多光纤MT-RJ（PC和APC），SMA和特殊连接器。MAX-QS +具有便携式设计，自动聚焦，100微米的扫描范围，光纤高度和1.1微米的分辨率。

该设备通过USB 3.0电缆和12V DC电源适配器连接到便携式计算机或台式计算机。

MAX-QS +随附行业领先的MaxInspect™软件，用于光纤连接器的干涉测量。

Sumix干涉仪设计用于在抛光和组装过程中检查光纤插芯，跳线，尾纤和裸光纤。它们使您能够检查抛光质量，根据IEC，Telcordia或您自己的自定义标准测试连接器端面的几何形状，并生成报告以随跳线一起提供。

Sumix干涉仪是现代可靠的光纤测试设备，具有USB 3.0连接技术，高分辨率和高对比度光学器件，符合人体工学的智能夹具，现代直观的软件。

功能：

1. 单纤检查

2. 自动对焦

3. 通过/失败判定

4. 划痕检测

5. 快速测量

6. 行业标准

软件：

任务选择：根据IEC / Telcordia行业标准，所有主要连接器类型的任务繁多。您可以选择仅查看设备支持的活动任务。

即时取景：只需按Measure，即可在几秒钟内使连接器聚焦并测量。

表达结果：使用Express模式测试大量连接器。在同一屏幕上检查测试结果，然后转到下一个连接器。

总结报告：您可以打开“ 摘要报告”面板以查看实时统计信息。

详细报告：完整报告包含测量的几何参数，包括。引导孔的平行度和角度。打印或导出报告以证明您的连接器。

异常报告：完整报告包含异常检测结果

异常图像：异常检测与几何测量同时进行，以消除测试后使用台式显微镜的需要。

特征：

• 高分辨率2D和3D表面轮廓

  探索小至1.1μm的表面细节。

• 自动对焦

  一键式将操作员的动作减至最少。

• 组合异常检测和几何测试

  加快检查速度，提高工作效率。

• 快速测量

  在2秒或更短的时间内测量单个光纤连接器。

• 显微镜模式

  测量之前，目视检查连接器端面。

• MT16和MT32检查

  掌握最新的市场技术。

• 业界领先的MaxInspect™自动检查软件

  测量曲率半径，顶点偏移，纤维高度等。

• 纤维高度的100微米扫描范围

  准确检查具有较大不连续性和特殊连接器的套圈表面。

• 数据库连接

  将来自所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并将Sumix设备轻松集成到您的制造系统中。

• 符合行业标准

  根据IEC，Telcordia或您自己的通过/失败标准进行测试。