SUMIX进口MAX-QM 干涉仪适用于单纤和多纤连接器,包括MT16/32,进行多纤维检查,单纤检查,自动对焦,通过/失败判定,快速测量
MAX-QM 干涉仪
适用于单纤和多纤连接器,包括MT16/32,
MAX-QM 是一种白光相移干涉仪,可在一次扫描中检查MT,MT-RJ,MTP®/ MPO(PC和APC),SMA连接器/插芯。该干涉仪具有很高的测试速度,便携式设计,自动聚焦和大视野,能够每行测试16根光纤,每次扫描最多可测试120根光纤。
该设备通过USB 3.0电缆和12V DC电源适配器连接到便携式计算机或台式计算机。
MAX-QM 随附业界领先的MaxInspect™软件,用于光纤连接器的干涉测量。
Sumix干涉仪设计用于在抛光和组装过程中检查光纤插芯,跳线,尾纤和裸光纤。它们使您能够检查抛光质量,根据IEC,Telcordia或您自己的自定义标准测试连接器端面的几何形状,并生成报告以随跳线一起提供。
Sumix干涉仪是现代可靠的光纤测试设备,具有USB 3.0连接技术,高分辨率和高对比度光学器件,符合人体工学的智能夹具,现代直观的软件。
功能:
软件:
任务选择:根据IEC / Telcordia行业标准,所有主要连接器类型的任务繁多。您可以选择仅查看设备支持的活动任务。
即时取景:只需按Measure,即可在几秒钟内使连接器聚焦并测量。
表达结果:使用Express模式测试大量连接器。在同一屏幕上检查测试结果,然后转到下一个连接器。
总结报告:您可以打开“ 摘要报告”面板以查看实时统计信息。
详细报告:完整报告包含测量的几何参数,包括。引导孔的平行度和角度。打印或导出报告以证明您的连接器。
异常报告:完整报告包含异常检测结果
异常图像:异常检测与几何测量同时进行,以消除测试后使用台式显微镜的需要。
特征:
高分辨率2D和3D表面轮廓
探索小至2.2μm的表面细节。
自动对焦
一键式将操作员的动作减至最少。
大视场可达5700μm
测量从导向孔到导向孔的连接器。
快速测量
最快3秒钟即可测量多光纤连接器。
与创新的Side Front View灯具兼容
克服MTP®/ MPO测量中的电缆张力和套圈定位不确定性,并控制其他参数-引导孔的平行度和角度。
MT16和MT32检查
掌握最新的市场技术。
人体工学夹具设计
轻松的套圈/连接器插入和夹具处理节省了时间。
数据库连接
将来自所有本地站点的测量数据存储在一个地方,并将Sumix设备轻松集成到您的制造系统中。
符合行业标准
根据IEC,Telcordia或您自己的通过/失败标准进行测试。