介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗测试仪概述

GDAT高频 Q 表作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。

主要技术特性

Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档

固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围 4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围 1 ～ 200pF

主电容调节范围 18 ～ 220pF

主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz

频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字

搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用

gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具。

介电常数介质损耗测试仪概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；

仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。

BD916介质损耗测试装置是BD916 914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。

测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。

平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。

BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。

BH916测试装置 GDAT高频Q表

平板电容极片 Φ50mm/Φ38mm 可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023

电感：

线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值

9 100KHz 98 9.4 25mH

8 400KHz 138 11.4 4.87mH

7 400KHz 202 16 0.99mH

6 1MHz 196 13 252μH

5 2MHz 198 8.7 49.8μH

4 4.5MHz 231 7 10μH

3 12MHz 193 6.9 2.49μH

2 12MHz 229 6.4 0.508μH

1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH

产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感9只；

c.夹具一套