苏州双立仪器科技有限公司
日本三丰 表面形状轮廓度测量仪 CV-4500系列
· CV-4500系列Contracer—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺，有效保证了全部测量范围内高达0.02um的分辨率。
· 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围，有效提高可操作性。
· 用于FORMTRACEPAK轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统，便于测量。
· 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。
· 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。
· 垂直测壁为标准配置，可用于20mm测量探针（996506）和单边切割测量探针(354884)。
· CV-4500系列Contracer—Z轴检测装置中的圆弧光栅尺，有效保证了全部测量范围内高达0.02um的分辨率。
· 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围，有效提高可操作性。
· 用于FORMTRACEPAK轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统，便于测量。
· 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。
· 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。
· 垂直测壁为标准配置，可用于20mm测量探针（996506）和单边切割测量探针(354884)。
型号 |
CV-3200S4 |
CV-3200H4 |
CV-3200W4 |
CV-3200S8 |
CV-3200H8 |
CV-3200W8 |
||
CV-4500S4 |
CV-4500H4 |
CV-4500W4 |
CV-4500S8 |
CV-4500H8 |
CV-4500W8 |
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测量范围 |
X轴 |
100mm |
200mm |
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Z轴（检测器） |
±30mm |
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Z2轴（立柱）移动量 |
300mm |
500mm |
500mm |
300mm |
500mm |
500mm |
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X轴倾斜范围 |
±45° |
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标尺 |
X轴 |
激光全息光栅尺 |
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Z1轴（检测器） |
圆弧光栅尺 |
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Z2轴（立柱） |
ABS光栅尺 |
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分辨率 |
X轴 |
0.05цm |
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Z1轴（检测器） |
0.04цm(CV-3200系列)，0.02цm(CV-4500系列) |
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Z2轴（立柱） |
1цm |
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驱动速度 |
X轴 |
0-80mm/s和手动 |
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Z2轴（立柱） |
0-30mm/s和手动 |
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测量速度 |
0.02-5mm/s |
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直线度（X轴在水平方向上） |
0.8цm/100mm |
2цm/200mm |
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指示精度（20℃时）CV-3200系列 |
X轴 |
±(0.8 0.01L) цm L=驱动长度（mm） |
±(0.8 0.02L) цm L=驱动长度（mm） |
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Z1轴（检测器） |
±(1.6 1 2H 1/100) цm H:水平位置上的测量高度（mm） |
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指示精度（20℃时）CV-4500系列 |
X轴 |
±(0.8 0.01L) цm L=驱动长度（mm） |
±(0.8 0.02L) цm L=驱动长度（mm） |
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Z1轴（检测器） |
±(0.8 1 2H l/25) цm H:水平位置上的测量高度（mm） |
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探针上/下动作 |
弧形运动 |
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测量方向 |
向前/向后 |
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探针方向 |
向上/向下 |
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测力 |
30mN |
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跟踪角度 |
上升：77°，下降：83°（根据表面粗糙度使用标准单切面探针） |
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探针针尖（标准附件） |
针尖半径：25цm，硬质合金头 |
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基座尺寸（宽×深） |
600×450mm |
1000×450mm |
600×450mm |
1000×450mm |
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基座材料 |
花岗岩 |
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外部尺寸（宽×深×高） |
主机 |
756×482× |
756×482× |
1156×482× |
766×482× |
766×482× |
1166×482× |
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控制箱 |
221×344×490mm |
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遥控箱 |
248×102×62.2mm |
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重量 |
主机 |
140kg |
150kg |
220kg |
140kg |
150kg |
220kg |
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控制箱 |
14kg |
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遥控箱 |
0.9kg |
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工作温度范围 |
15℃至25℃（校正和测量时段内，温差不超过±1℃） |
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工作湿度范围 |
20-80%RH（无凝结状态） |
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保存温度范围 |
-10℃至50℃ |
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保存湿度范围 |
5-90%RH（无凝结状态） |
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电源规格 |
100-120V，200-240V±10%，AC50/60HZ |
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电源消耗（仅主机） |
400W |
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