描述：

1.光学系统

多块高性能CCD检测器系统，根据应用需要最多达16块CCD检测器

每块CCD 3,648像素

58,368像素的分辨率(16 x 3,648像素)

高性能全息衍射光栅，光栅刻线2400条/mm

温度稳定系统

采用特殊材料应对漂移

焦距：500 mm

谱线波长：190 -800 nm由衍射光栅的选择决定。光栅的选择由制造商根据分析元素和分析程序来决定

全光学系统自动描迹

密闭的光学室可以避免灰尘、光线的干扰

2.谱线

SCNF覆盖了全元素分析范围，可根据具体需要分析相应的元素

光学系统包括固态检测器能够测量样品所发出的全谱

可现场增加分析程序

3.控制、电子采集和数据读出系统

电子系统具有微处理器控制的多通道积分和数据系统采集功能

高速16位模数转换器

ISP混合信号Flash微控制器100MHz

多种连接源

高速读出及高速USB借口支持快速数据控制与处理系统

最多16块CCD模块，由制造商根据应用情况选择

4.火花源

全自动控制火花源

半导体控制放电激发

1到100 A等离子体电流

放电参数由密码保护

特别的分析要求可有不同的激发参数

火花光源放电稳定，不受供电系统波动的影响

激发参数由激发线和分析程序标定和控制

火花频率:200到to 1000 Hz (可控)

火花持续时间10-10000 us (可控)

5.火花台

开放式的火花台可以分析测试重达20Kg的各种形状的样品

电极易于拆卸维护

氩气吹扫火花台，低氩气消耗

使用便捷的样品夹支持快速样品更换

不同样品的适配器可满足各种样品的需求（可选）

6.软件:分析软件、校正软件、统计功能

计算每种元素的校正曲线需考虑到各种基体（参考线）。

软件功能:

分析校正软件：

智能化:用一组标样即可完成标准化

便捷的用户图形界面

创建或修改分析程序

常用的操作功能键

可选择的输出方式(强度，强度比，未校正的浓度，校正后的浓度等)

可选择的浓度单位( ppm, % )

通用标准化

微型标准化

校正元素间的干扰

自动标准化

标准偏差和相对标准偏差功能

合金类型鉴定（UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS,等.）

标样库

国际标准物质库

牌号鉴定

支持C当量或其他参数的计算

可标记超出工作曲线范围的元素分析结果

具有根据分析时间或激发次数自动再校正功能

统计功能软件：

统计计算

可打印所有激发结果或是最多100次的激发平均结果，及其标准偏差和相对标准偏差

硬盘存储数据便于今后的研究分析

可连接外部计算机或中心系统

综合特性：

32位应用软件

字体、字体大小设定

日期/时间格式基于Windows设置

多种输出功能或对话操作的快捷图标

下拉式菜单操作文档、筛选、观察

元素数量不受限

样品识别域数量不受限

帮助文件

手动转换MS-Word文件or PDF文件

全自动控制，自动诊断功能

数据库：

输入、输出

仪器与通信间的接口

文件的共享、传输

输出文件、统计程序

文档：

标准输出、页面设置logo或信头功能

打印设置、打印预览

数据打印、工作曲线打印

分析管理：

数据库管理和控制

多窗口支持多任务工作