Ux-310 多功能分析仪专门应对RoHS指令，无卤指令，WEEE指令，土壤、矿石成分分析，铜合金、不锈钢牌号识别的高端机型。三重射线防护系统；人性化操作界面；即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素，又能够对土壤、矿石成分分析，铜合金、不锈钢牌号识别。可完全满足客户环保管控要求和材料识别。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。

 

应用领域：

用于RoHS指令管控的产品：大型家电、小型家电、信息技术及通讯设备、电动工具、玩具等设备

用于无卤指令管控的产品：用含有Cl、Br等元素的阻燃剂作为原料的产品

用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试

 

技术指标:

1、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

2、样品腔尺寸：300*360*100mm；

3、测试元素范围：S-U中的元素

4、检测范围：1ppm-99.99%

5、RoHS检测限：Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm

6、测试样品类型：固体、粉末和液体

7、测量时间 ：120-400s ( 系统自动调整 )

8、 佳分辨率：见下面探测系统详细参数说明

9、准直器：Φ2mm、Φ5mm

10、滤光片：8种复合滤光片自动切换

11、CCD观察：130万像素高清CCD

12、样品微动范围：XY8mm

13、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

14、额定功率：350W

15、重量：约45Kg

16、工作环境温度：温度15-30℃

17、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

我们的六大技术优势

	一、FP基本参数法 基本参数法（FP法）是根据X射线荧光强度与元素含量、厚度等的函数关系，应用核物理、应用数学、计算机等领域内的前沿研究成果，依据X射线荧光激发样品物理机制所提供的数学校正方法，该测试方法适用于分析无标样或少标样的样品，在合金、陶瓷、多元半导体材料、考古、地质样品领域有广泛应用空间。
	二、偏振二次靶技术 X射线经偏振靶偏振后，再作为激发光源照射到样品上，可以保证待测元素最佳激发状态，并减少散射和干扰，从而大大降低背景，提高测试灵敏度和信噪比。
	三、超短光路设计 由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，华唯以30年XRF领域研发积淀为基础，结合华唯人对XRF技术领域的卓越领悟力，华唯计量设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于环保无卤指令检测。
	四、精密机械设计 真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
	五、无标样技术  XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。华唯集结30年的技术积累，独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，业内唯一，华唯引领行业持续发展。
	六、二次滤光技术 采用行业领先的二次滤光技术，测试金属样品中的管控元素精度明显提高了1倍，同时灵活的滤光机构设计，可根据客户需求的侧重而定制滤光系统。