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ST-20型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特点：
技术参数：
测量范围 |
基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口) |
测量不确定度 |
≤5% |
探针规格 |
探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
恒流源 |
测量过程误差：≤±0.8% |
电源 |
9V叠层电池1节 |
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